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赛默飞ELEMENT GD Plus双聚焦辉光放电质谱仪
赛默飞
ELEMENT GD Plus
Thermo Scientific ELEMENT GD结合了辉光放电离子源和双聚焦高分辨率质量分析器，可以定性定量分析固体样品中包括C、N、O在内的几乎所有元素，是直接、快速分析高纯样品杂志含量和镀层材料元素组成的最佳工具。
主要用于为冶金行业提供完整的材料表征。 作为高纯度导体和半导体材料直接分析的理想工具，此系统可以检测到并常规地为固体样本中几乎所有的元素在 ppb 级或以下进行定量。
ELEMENT GD集中了辉光放电和高分辨质谱的优势，在以下方面有杰出表现：
样品测试通量高：ELEMENT GD离子源和样品夹的设计使可缩短换样和分析时间，显著提高生产率；
检测器线性范围宽：检测器线性范围达12个数量级，可一次扫描同时检测基体和痕量元素组成；
具有固定宽度的低、中、高分辨率狭缝，采用高分辨率可直接分析有质谱干扰的同位素。
微秒级脉冲、高流速、大功率
相较静态 GD，该独特技术具有出色的灵敏度和较低的多原子干扰，稳定性绝佳、准确度极高并能缩短分析时间，在金属和合金检测方面的准确度为 ±30%（无需校准）。
双聚焦质谱仪
高离子传输率结合低背景噪声， 铸就了无可比拟的信噪比和低至亚 ppb 级的检出限。高质量分辨率实现最佳选择性和准确度。
十二数量级的自动检测系统
>拥有 12 个数量级线性动态范围的全自动检测器可在一次扫描中同时测定基体和超痕量元素。
高效易用的先进软件包
所有参数均由计算机控制，可实现全自动分析、数据评估以及与自动数据传输的 LIMS 连接性。
关键特性
设计独特，具有最高的准确度和广泛可调的溅射速率，非常适合整体分析和深度分析的应用
灵敏度高，分析时间短
样品间切换简单快速
无需液氮冷却即可具有较低的多原子干扰
灵活的样品池，适用于平板样品、压片粉末和针状样品
插拔式锥形阳极部件，便于快速更换，以免有样品残留
直接分析高纯度固体材料的最佳工具。使用超灵敏且准确的 Thermo Scientific™ ELEMENT™ GD PLUS GD-MS 确保您的高纯度材料符合规格。GD-MS 是直接分析金属、半导体和陶瓷粉（例如 Al2O3 或 SiC）的最佳工具。拥有出色的半定量功能，深度分析的应用所涉及的厚度从纳米到 100µm 不等。
| 货号 | 名称 | 品牌 | 购买 |
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