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详细描述：
INSIGHT软件——化繁为简。
·个性化的主屏幕，易于导航，增强了便利性。
·工作手册工具可以节省时间，确保实验结果的准确性。
·CUE 脚本允许创建定制的界面和简化的工作流程。
优化的工程学设计可提供最佳性能。
·1nm 光谱带宽的双光束几何元件实现各种精密测量。
·光学汇聚 (AFBG) 技术极大程度上优化了微量池、固体样品和光纤探针的性能。
·氙闪光灯无需预热时间，可进行瞬时测量，采用电子触发，为快速混合动力学测定提供最高水平的准确度。
·精密的单色器驱动设计，提供快速扫描数据采集和波长准确度。
指尖轻点，轻松完成。
·利用彩色触摸屏和内置计算机进行仪器控制。
·采用集成式键盘与 INSIGHT 软件通讯。
·灵活便利的本机或计算机配置选项。
满足所有采样需求的附件。
·多种附件选择，包括各种温度控制选件、样品转换器、吸样器和固体采样装置，帮助您完成分析任务。
·选择 Peltier 单个池架或智能 Peltier 8 联池系统来进行温度控制，并对样品实施 0°到 100 °C 的监控。
·易于使用的软件集成化帮助您完全控制整个测定过程。
保障系统性能。
·赛默飞紫外校验包支持各种系统认证和验证工作。
·文件记录功能确保您的系统符合 FDA、GxP、ISO 9001:2000 和 ISPE 2001 规定和条例的要求。
·汞灯附件可用于进行仪器校准。
·赛默飞 INSIGHT security 软件能够提供完整的工具以符合 21 CFR 第 11 部分要求。
准确度（光度） 0.5: ±0.0004; 1: ±0.006; 2: ±0.010; Measured at 440nm using neutral density filters traceable to NIST?/NLPL 基线平坦度 ±0.0010A, 200-800nm, 1.0nm SBW, smoothing
射束几何形状 Double-beam with Application Focused Beam Geometry 认证/合规 ISO 9001:2008
连接 USB or RS-232 Data Interval 10, 5, 2, 1.0, 0.5, 0.2, 0.1nm 深度（英制） 24.3 in.
深度（公制） 62.2mm
描述 Cutting-edge instrumentation, intuitive and powerful software, and a wide range of accessories consistently deliver high quality results and improved productivity
检测器类型 Dual Silicon Photodiodes Dimensions (L x W x H) 62.2 x 48.6 x 27.9cm 显示 Touchscreen LCD panel; 800 x 480; 17.8cm (7 in) diagonal Electrical Requirements 100-240V 50-60Hz, selected automatically, 150W maximun
物品描述 Evolution 220 LC
键盘 Sealed membrane 灯 Xenon Flash Lamp, 3 year warranty (7 years typical lifetime)
噪声 0A: <0.00015A;
1A: <0.00025A;
2A: <0.00080A;
260nm, 1nm SBW, RMS
操作系统 Microsoft Windows? XP embedded. INSIGHT 2 Software is also compatible with Windows 7 and Windows 8.1 Professional Edition and can be installed on a computer attached to the instrument.
光学设计 Double Beam with sample and reference cuvette positions; Application Focused Beam Geometry; Czerny-Turner Monochromator Pharmacopoeia Compliance Testing (Guaranteed Performance Specifications)
Resolution (Toluene in Hexane): ≥1.8A
Photometric Accuracy (60 mg/L L2Cr2O7): ±0.010A
Stray Light: ≤1%T at 198nm: KCI; ≤0.05%AT at 220nm: Nal, Kl
Wavelength Accuracy: ±0.5nm 541.9, 546.1nm Hg emission lines, ±0.8nm full range
Wavelength Repeatability: ≤0.05nm, repetitive scanning of 546.1nm Hg emission line Photometric Accuracy Instrument 1A: ±0.006A
2A: ±0.010A
Measured at 440nm using calibrated neutral density filters traceable to NIST Photometric Display -0.3 to 4.0A Photometric Range >3.5A Photometric Repeatability ±0.0002A Scan Ordinate Modes Absorbance, % Transmittance, % Reflectance, Kubelka-Munk, log (1/R), log (Abs), Abs*Factor, Intensity
扫描速度 <1-6000nm/min, variable
光谱带宽 Variable: 1.0nm; 2.0
粤公网安备 44010602000473号
粤ICP备09063491号
营业执照
